Caracteristici ale microscopului electronic de scanare
Deși microscopul electronic de scanare este o stea în creștere în familia microscopului, acesta s-a dezvoltat rapid datorită numeroaselor sale avantaje unice.
1 Instrumentul are o rezoluție înaltă, iar imaginea secundară a electronilor poate fi utilizată pentru a observa detaliile suprafeței eșantionului la aproximativ 6nm. Folosind arma cu electroni LaB6, aceasta poate fi îmbunătățită în continuare la 3nm.
2 Gama de mărire a instrumentului este mare și poate fi reglată continuu. Prin urmare, puteți alege diferite dimensiuni de câmp vizual pentru observare în funcție de nevoile dumneavoastră. În același timp, puteți obține imagini clare de înaltă luminozitate, care sunt dificil de realizat cu microscoape electronice de transmisie obișnuite la mărire mare.
3 Observați adâncimea câmpului eșantionului, câmpul vizual este mare, iar imaginea este plină de sens tridimensional. Se poate observa direct suprafața aspră cu fluctuații mari și fractura metalică inegală a probei, etc., oferind oamenilor sentimentul de a fi în lumea micro.
4 Preparatul probei este simplu, atâta timp cât proba de bloc sau pulbere este tratată sau nu este tratată puțin, aceasta poate fi observată direct în microscopul electronic de scanare, astfel încât este mai aproape de starea naturală a substanței.
5 Calitatea imaginii poate fi controlată și îmbunătățită eficient prin metode electronice, ar fi menținerea automată a luminozității și contrastului, corectarea unghiului de înclinare a eșantionului, rotirea imaginii sau latitudinea îmbunătățirii contrastului imaginii prin modularea Y și luminozitatea fiecărei părți a imaginii Moderată. Folosind dispozitive de mărire duală sau selectoare de imagini, imaginile cu diferite măriri pot fi vizualizate simultan pe ecranul fluorescent.
6 Este posibilă o analiză cuprinzătoare. Echipat cu un spectrometru cu raze X dispersiv (WDX) sau cu un spectrometru cu raze X dispersiv cu energie (EDX), acesta are funcția unei sonde electronice și poate detecta, de asemenea, electroni reflectați, raze X, fluorescență catodică, electroni transmiși și Auger Electronics etc. Extinderea aplicării microscopiei electronice de scanare la diferite metode de analiză microscopică și micro-zonă arată versatilitatea microscopiei electronice de scanare. În plus, este, de asemenea, posibil să se analizeze microregiunile opționale ale eșantionului în timp ce se observă imaginea morfologică; cu fixarea suportului eșantionului de semiconductori, joncțiunea PN și microdefectele din tranzistor sau circuitul integrat pot fi observate direct prin amplificatorul de imagine cu forță electromotivă. Deoarece multe sonde electronice SEM realiza computer electronic de control automat și semi-automat, viteza de analiză cantitativă este mult îmbunătățită.